A kapcsolóüzemű áramátalakítók teljesítménysűrűségének és teljesítményének maximálisra növelése kettős MOSFET-ekkel

By Jens Wallmann

Az ipari és a gépjárműiparban használt kapcsolóüzemű áramátalakítók és villanymotor-vezérlők olyan fém-oxid záróréteges térvezérelt tranzisztorokat (MOSFET, metal oxide semiconductor field effect transistor) igényelnek, amelyek kis méretűek, jó hatásfokúak, és minimális villamos zajt keltenek. A kettős MOSFET-ek segítenek megfelelni ezeknek a követelményeknek.

Azáltal, hogy két MOSFET-et helyeznek el egyetlen tokban, a jól megtervezett kettős MOSFET-ek kevesebb helyet foglalnak el a nyomtatott áramköri (nyák-) lapon, csökkentik a parazitainduktivitást, és a kisebb hőleadásnak köszönhetően nincs szükség terjedelmes és költséges hűtőbordákra sem. Az ilyen eszközök több száz kilohertzen (kHz) is zavarás nélkül képesek kapcsolni, nagy hőmérséklet-tartományban stabilan működnek, és kicsi a visszáramuk. A tervezőknek azonban ismerniük kell a működési jellemzőiket ahhoz, hogy teljes mértékben kiaknázhassák ezen alkatrészek előnyeit.

Ez a cikk példaként bemutatja a Nexperia néhány kettős MOSFET-jét, és ismerteti, hogyan használhatják ezeket a tervezők nagy tűrőképességű és jó hatásfokú berendezések tervezéséhez ott is, ahol szűkös a hely. Tárgyalja az áramkör- és nyomtatottáramkörilap-tervezés optimalizálásának néhány módját, és tanácsokat ad az elektrotermikus szimulációhoz és a veszteségelemzéshez.

Jobb hatásfok nagy kapcsolási frekvencián

A kettős MOSFET-ek remekül használhatóak számos gépjárműipari (AEC-Q101 minősítésű) és ipari berendezésben, többek között kapcsolóüzemű egyenáram-átalakítókban, villanymotor-inverterekben és mágnestekercs-vezérlőkben. Ezekben a berendezésekben a kettős MOSFET-eket lehet használni többek között kapcsolópárokban vagy félhídkapcsolásokban.

A Nexperia LFPAK56D sorozata a kettős MOSFET-ek egy figyelemre méltó példája. Ezekben a Nexperia rézsarus technikáját használják, amely kivételes áramfelvételt, kis tokimpedanciát és nagy megbízhatóságot tesz lehetővé (1. ábra, jobbra). Ezek a tömör rézsaruk javítják a hőelvezetést a félvezető hordozóanyagról (szubsztrát) a forrasztott kötéseken keresztül a nyomtatott áramköri lapra, így a teljes elvezetett hő körülbelül 30%-át veszik le a forrás (source) lábakról. A nagy réz keresztmetszetek csökkentik az ohmos teljesítményveszteséget és a parazita vonalinduktivitás csökkentésével csillapítják a lengéseket is.

A Nexperia LFPAK56D és LFPAK56 MOSFET-tok képe1. ábra: Az LFPAK56D tok (jobbra) két független MOSFET-et egyesít egy tokban, és az egy MOSFET-et tartalmazó LFPAK56 tokhoz (balra) hasonló rézsarus technikát használ (ábra: Nexperia)

A legtöbb nagyfeszültségű kapcsolóüzemű áramátalakítóhoz szánt alkatrészhez hasonlóan az LFPAK56D is SuperJunction („szuper pn-átmenet”) technikát használ. Ez a kialakítás csökkenti a nyelő és a forrás közti (nyelő–forrás) nyitóirányú ellenállást (RDS(on)) és a kapu és a nyelő közötti (kapu–nyelő) töltésmennyiséget (QGD), minimálisra csökkentve a teljesítményveszteségeket. Az, hogy a két MOSFET ugyanazon a hordozóanyagon van elhelyezve, tovább csökkenti a nyelő–forrás-ellenállást.

SuperJunction MOSFET-ként az LFPAK56D sorozatnak nagy a tűrőképessége a lavinahatással szemben, és széles a biztonságos működési területe (SOA, safe operating area). Például a PSMN029-100HLX jelű TrenchMOS árkos MOSFET-ben található 100 V-os MOSFET-ek mindegyikének 29 mΩ az RDS(on) nyitóirányú ellenállása, 68 W teljesítményt képesek kezelni, és akár 30 A átvitelére is alkalmasak.

Az LFPAK56D sorozat az NXP SchottkyPlus technikáját is használja a feszültség- és áramlökések és a visszáram csökkentése érdekében. Például a PSMN014-40HLDX jellemző RDS(on) nyitóirányú ellenállása 11,4 mΩ, a nyelő–forrás visszáram pedig rendkívül kicsi, 10 nA.

A MOSFET-ek nagy áramerősségének teljes kihasználásához a nyomtatott áramkört úgy kell megtervezni, hogy elvezesse a nagy hőt, és stabil villamos csatlakozásokat tegyen lehetővé. A többrétegű nyomtatott áramköri lapok elegendő átmenő furattal és nagy méretű, vastag réz vezetőcsíkokkal segítik a jó hűtést.

A hőmegfutás elkerülése

Miközben a teljesen nyitott MOSFET-ek termikusan stabilak, ha a nyelőáram (ID) kicsi, fennáll a hőmegfutás veszélye.Ebben az üzemállapotban a helyi melegedés csökkenti a kapu–forrás-küszöbfeszültséget (VGS(th)), ami azt jelenti, hogy az eszköz könnyebben kinyit. Ez egy pozitív visszacsatolásos helyzetet teremt, ahol a további áram még nagyobb melegedést idéz elő, és még kisebb VGS(th) küszöbfeszültséget hoz létre.

A 2. ábra ezt a hatást mutatja állandó nyelő–forrás-feszültség (VDS) esetén. Ahogy a VGS kapu–forrás-feszültség nő, van egy kritikus ID áramerősség, amelyet nulla hőmérsékleti együtthatónak (ZTC, Zero Temperature Coefficient) neveznek. E fölött az áramerősség fölött negatív visszacsatolás és termikus stabilitás van (kék zóna), míg alatta a küszöbfeszültség-csökkenés dominál, ami termikusan instabil működési pontokat eredményez, amelyek hőmegfutáshoz vezethetnek (piros zóna).

Grafikon: a MOSFET hőmegfutásba kerülhet2. ábra: A nulla hőmérsékleti együttható (ZTC pont) alatt a MOSFET a hőmérséklet következtében létrejövő VGS kapu–forrás-feszültség csökkenése (piros terület) miatt hőmegfutásba kerülhet (ábra: Nexperia)

Ez a hatás kis áramerősségek és nagy nyelő–forrás-feszültségek esetén csökkenti a biztonságos működési területet (SOA), viszont a nagy dV/dt meredekségű gyors kapcsolási műveleteknél nem jelent számottevő problémát. A kapcsolási időtartam növekedésével azonban, amire például az elektromágneses zavarás csökkentése érdekében lehet szükség, a hőmérséklet miatti (termikus) instabilitás mind valószínűbbé és potenciálisan veszélyessé válhat.

Kisebb kapcsolási veszteségek nagy frekvenciákon

Amikor gyors kapcsolású eszközökhöz választ SuperJunction MOSFET-et, alapvető fontosságú, hogy kicsi legyen a QGD nyelő–kapu-töltésmennyiség, mivel ez jelentősen csökkenti a kapcsolási veszteségeket.

Ha a nyelő, a kapu és a forrás között egy időben lépnek fel jelentős feszültség- és áramerősség-változások, a kapcsolás során nagy teljesítményveszteség keletkezik. A kis QGD rövid Miller-platót eredményez (3. ábra, balra), aminek következtében nagy lesz a kapcsolási meredekség (dVds/dt), és végül kisebb dinamikus energiaveszteség jön létre a nyitás során (3. ábra, kék terület a jobb oldalon).

A Miller-platót és a kapcsolási meredekséget mutató grafikonok3. ábra: A rövid Miller-plató (balra) nagy kapcsolási meredekséget jelent, ami kis dinamikus veszteségeket eredményez (kék terület a jobb oldalon). A Vgp a Miller-plató kapu–forrás-feszültsége, a VTH a kapu küszöbfeszültsége, az Ids a nyelő-forrás-áramerősség (ábra: Vishay)

A lavinahatás energiájának korlátozása és a MOSFET védelme

A villanymotor-vezérlő eszközökben az állórésztekercs áramtalanításának pillanatában az összeomló mágneses mező fenntartja az áram folyását, olyan magas indukciós feszültséget generálva a MOSFET-en keresztül, amely felülmúlja a tápfeszültséget (VDD). A MOSFET belső testdiódájának záróirányú átütési feszültsége (VBR) azonban korlátozza ezt a magas feszültséget. Az úgynevezett lavinahatás során a MOSFET a kiáramló mágneses energiát lavinaenergiává (EDS) alakítja, amíg a tekercsáram nullára nem csökken. Ez gyorsan túlmelegítheti a félvezetőkristályt.

A 4. ábra egy egyszerű tekercsvezérlést mutat egy MOSFET-es kapcsolóval, valamint a jeleket az idő függvényében egy lavinaesemény előtt, alatt (tAL időablak) és után. Ha a lavinahatás során leadott energia mennyisége (EDS(AL)S) túl nagy, a keletkező hő károsítja a félvezető szerkezetét.

Egy MOSFET jeleit egy lavinaesemény előtt, alatt (tAL) és után az idő függvényében mutató diagram (nagyításhoz kattintson az ábrára)4. ábra: Egy MOSFET jelei az idő függvényében egy lavinaesemény előtt, alatt (tAL) és után (ábra: Nexperia)

Az LFPAK56D MOSFET-eket nagyon strapabíróra tervezték, és a Nexperia laboratóriumi tesztjei szerint több milliárd lavinaeseményt képesek károsodás nélkül elviselni. A maximális lavinaenergiát figyelembe véve a tekercsvezérlő fokozatok működnek további szabadonfutó és megfogódiódák nélkül is, csak ezeknek a MOSFET-eknek a lavinahatásos működését használva.

Az elektrotermikus hatás számítógépes szimulációja

A rendszer hatásfokának javításához nem elegendő egy egyszerű jóságmutató számra (FOM, figure of merit), például az RDS × QGD szorzatra hagyatkozni. Ehelyett a tervezőknek pontosabb veszteségelemzést kell végezniük, amely figyelembe veszi a MOSFET-eknek az alábbiak miatti veszteségeit is:

  • nyitáskori vezetőképesség
  • nyitási és zárási veszteségek
  • a kimeneti kapacitás töltése és kisütése
  • a belső testdióda folytonossági és kapcsolási veszteségei
  • a kapukapacitás töltése és kisütése

Az összveszteség minimálisra csökkentése érdekében a tervezőknek meg kell érteniük a MOSFET paraméterei és az üzemi környezet közötti kapcsolatot. Erre a célra a Nexperia precíziós elektrotermikus modelleket kínál a MOSFET-ekhez, amelyek figyelembe veszik a villamos és a hőteljesítményt is, valamint a MOSFET minden fontos működési jellemzőjét. A fejlesztők használhatják a PartQuest Explore internetes szimulátort, vagy importálhatják a modelleket SPICE vagy VHDL-AMS formátumban az általuk választott szimulációs platformba.

A cikk megírásának időpontjában az LFPAK56D MOSFET-ekhez csak a villamos modellek állnak rendelkezésre. Ezért a következő hőszimulációs példa egy másik MOSFET-típussal, a BUK7S1R0-40H jelű MOSFET-tel foglalkozik.

A párbeszédes kísérleti IAN50012 Electrothermal models for Power MOSFET (IAN50012 elektrotermikus modellek teljesítmény-MOSFET-ekhez) alkalmazás a BUK7S1R0-40H MOSFET három melegedési forgatókönyvét szimulálja 36,25 A terhelőáram rákapcsolása után. Az 5. ábra bal oldalán a három szimulációs kapcsolás látható.

Egy MOSFET elektrotermikus szimulációjának grafikonjai (nagyításhoz kattintson az ábrára)5. ábra: Az ábrán egy MOSFET-nek a PartQuest Explore internetes szimulátor segítségével végzett elektrotermikus szimulációja látható (ábra: Nexperia)

A felső tj_no_self_heating kapcsolás esetében a pn-átmenet és a hordozólap közvetlenül (Tamb) kapcsolódik a 0 °C-os környezeti hőmérséklethez, hőellenállás (Rth) nélkül. A középső tj_self_heating kapcsolás esetében a lapka az Rth-j pn-átmeneti hőellenálláson keresztül kapcsolódik a környezeti hőmérséklethez, és a pn-átmenet Tj hőmérséklete körülbelül 0,4 °C-ot emelkedik. Az alsó kapcsolás esetében a hordozólap (mb, mounting base) egy hűtőbordával ellátott hatrétegű, FR4 anyagú nyomtatott áramköri lap Rth_mb hordozólapi hőellenállásán keresztül kapcsolódik a környezeti hőmérséklethez. A hordozólapi Tmb hőmérséklet (zöld) 3,9 °C-ra, a p-n átmenet Tj hőmérséklete (piros) pedig 4,3 °C-ra emelkedik.

Összegzés

A rendkívül kis veszteségű LFPAK56D MOSFET-ek kiváló hatásfokot és teljesítménysűrűséget kínálnak a gyors kapcsolású kapcsolóüzemű áramátalakítókban és villanymotor-vezérlőkben való használathoz. A nyomtatott áramköri lapok tervezésének fentebb tárgyalt áramköri és hőtani szempontjai és az elektrotermikus szimuláció jól szemléltetik, hogy a tervezők hogyan küzdhetik le a nagy tűrőképességre és jó hatásfokra vonatkozó követelmények és a helyszűke jelentette tervezési kihívásokat.

Disclaimer: The opinions, beliefs, and viewpoints expressed by the various authors and/or forum participants on this website do not necessarily reflect the opinions, beliefs, and viewpoints of DigiKey or official policies of DigiKey.

About this author

Jens Wallmann

Jens Wallmann

Jens Wallmann is a freelancing editor and contributes to electronics publications, both print and online. As an electrical engineer (communications engineering) and a trained industrial electronic engineer he has more than 25 years in electronics development with a focus on measuring technology, automotive electronics, process industry and Radio Frequency.