A nagy teljesítményű berendezések veszteségeinek csökkentése, hatásfokának javítása és üzemi hőmérséklet-tartományának kiterjesztése

By Art Pini

Contributed By DigiKey's North American Editors

Az energiaigényes berendezések tervezőinek kisebb, könnyebb és jobb hatásfokú áramátalakítókra van szükségük, amelyek magasabb feszültségen és hőmérsékleten is képesek működni. Ez különösen igaz az olyan gépek esetében, mint a villanyjárművek (EV, electric vehicle), ahol az ilyen fejlesztések gyorsabb töltést és nagyobb hatótávolságot eredményeznek. Ezeknek a fejlesztések az elérése érdekében a tervezők széles tiltott sávú (WBG), például szilícium-karbid (SiC) alapú technikára épülő áramátalakítókat használnak.

Ezek az eszközök a szilíciumhoz (Si) képest magasabb feszültségen működnek és kisebb tömegűek, ugyanakkor hasonló teljesítmények kezelésére képesek. Emellett magasabb hőmérsékleten is működnek, ami csökkenti a hűtőrendszerrel szemben támasztott igényeket. A SiC eszközök képesek magasabb kapcsolási frekvencián működni, ami lehetővé teszi a kisebb passzív alkatrészek használatát, ezzel pedig csökken az áramátalakító mérete és tömege. A SiC eszközök még mindig folyamatos fejlesztés alatt állnak, az újabb erőfeszítések eredményeképpen pedig még kisebb nyitóirányú ellenállás érhető el, ami tovább csökkenti az energiaveszteségeket.

Ez a cikk röviden ismerteti a SiC előnyeit a Si-mal szemben, a villanyjárműveket használva szemléltetőkörnyezetként. Ezután a tárgyalja SiC eszközök fejlesztési irányait, majd bemutatja a ROHM Semiconductor 4. generációs SiC MOSFET-jeit, valamint azt, hogy ezek hogyan segítenek a tervezőknek a teljesítményveszteségek, a költségek és a helyigény csökkentésében.

Miért érdemes SiC-ot használni?

A villanyjárműveknek a nagyobb hatótávolság eléréséhez nagyobb akkumulátorkapacitásra van szükségük. Ezzel a tendenciával együtt az akkumulátorok feszültségét 800 V-ra növelik a töltési idő csökkentése érdekében. Emiatt a villanyjárművek tervezőinek olyan eszközökre van szükségük, amelyek elviselik ezeket a nagyobb feszültségeket, ugyanakkor csökkentik a villamos veszteségeket és a tömeget. A ROHM Semiconductor 4. generációs SiC MOSFET-jei a nagyobb feszültségtűrés, a kisebb vezetési és kapcsolási veszteségek és a kisebb méretek révén kisebb veszteségeket tesznek lehetővé.

A SiC egy széles tiltott sávú félvezető, amely a Si MOSFET technikához képest kivételesen jó hatásfokot kínál a nagyfeszültségű és nagy teljesítményű kapcsolóüzemű áramátalakítókban. A SiC és a Si fizikai tulajdonságainak összehasonlítása öt fizikai jellemző alapján mutatja meg ennek a javulásnak a forrását: az átütési villamoserőtér-feszültség (breakdown electric field), a tiltott sáv (bandgap), a hővezető képesség (thermal conductivity), az olvadáspont (melting point) és a telített elektronsodródási sebesség (saturated electron drift velocity) (1. ábra).

Ábra: a SiC MOSFET-ek előnyei a Si MOSFET-ekkel szemben (nagyításhoz kattintson az ábrára)1. ábra: A SiC MOSFET-ek előnyei a Si MOSFET-ekkel szemben öt fizikai jellemző alapján (ábra: ROHM Semiconductor)

A SiC átütési villamoserőtér-feszültsége tízszer akkora, mint a Si-é, ami lehetővé teszi, hogy az eszköz vastagságának csökkentése mellett is nagyobb átütési villamoserőtér-feszültségű eszközöket tervezzenek. A SiC szélesebb tiltott sávja lehetővé teszi, hogy az eszközök sokkal magasabb hőmérsékleten működhessenek. A jobb hővezető képesség csökkenti az eszköz hűtéséhez szükséges energiafelhasználást, míg a magasabb olvadáspont növeli az üzemi hőmérséklet-tartományt. Végül a SiC nagyobb telített elektronsodródási sebessége nagyobb lehetséges kapcsolási frekvenciákat és kisebb kapcsolási veszteségeket tesz lehetővé. Ezek a nagyobb kapcsolási frekvenciák kisebb szűrőket és egyéb passzív alkatrészeket igényelnek, ami tovább csökkenti a méreteket és a tömeget.

MOSFET-fejlesztés

Az eredeti SiC MOSFET-ek síkbeli (idegen szóval planáris) elrendezést használtak, ahol az eszköz kapuja és csatornája a félvezető felületén volt kialakítva. A síkbeli eszközök alkatrészsűrűsége korlátozott, mivel az eszközök méretét csak korlátozott mértékben lehet csökkenteni az eszköz jóságának (a félvezetőszeleten helyesen működő eszközök arányának) növelése érdekében. Az egy- és kétárkos MOSFET-ek használata nagyobb eszközsűrűség elérését teszi lehetővé (2. ábra).

Ábra: árkos MOSFET-ekkel nagyobb eszközsűrűség érhető el2. ábra: Árkos MOSFET-ek használatával az eszközelemek függőleges elrendezése révén nagyobb eszközsűrűség érhető el (kép: ROHM Semiconductor)

A többi MOSFET-hez hasonlóan az árkos MOSFET-cella is tartalmaz nyelőt, kaput és forrást, de azok függőlegesen egymás fölött helyezkednek el. A csatorna függőlegesen, a kapuárokkal párhuzamosan alakul ki a térvezérlés révén. Ennek eredményeképpen az áram függőlegesen folyik a forrástól a nyelő felé. A vízszintes elrendezésű és nagy területet elfoglaló síkbeli elrendezésű MOSFET-ekkel összehasonlítva ez a felépítés nagyon kis méretű.

Az egyárkos felépítés egy kapuárkot használ. A kétárkos eszköznek van egy kapu- és egy forrásárka is. A ROHM Semiconductor a 3. generációs SiC MOSFET-jei esetében áttért a kétcsatornás felépítésre. A 4. generációs eszközökben a cellaméret csökkentésével fejlesztették tovább a kétárkos kialakítást, tovább csökkentve ezzel a nyitóirányú ellenállást és a parazitakapacitást, ami sokkal kisebb teljesítményveszteséget eredményezett, és lehetőséget adott a kisebb SiC eszközök használatára, elősegítve a a költségtakarékosabb rendszertervezést.

A MOSFET nyitóirányú ellenállásának csökkentése veszélyeztetheti az eszköz rövidzárlatok kezelésére való képességét. A 4. generációs SiC MOSFET-ek azonban kisebb nyitóirányú ellenállást érnek el a rövidzárlat-elviselési idő feláldozása nélkül, így ezek az eszközök jelentős előnyre tesznek szert azzal, hogy a jó hatásfok mellett kiváló a rövidzárlatálló képességük is.

A veszteségek megértése

A kapcsolóüzemű áramátalakítók veszteségei több forrásból származnak. Az aktív eszközökhöz kapcsolódó veszteségek közé tartoznak a vezetési és kapcsolási veszteségek, valamint a belső testdióda miatti veszteségek (3. ábra).

Egy feszültségcsökkentő egyenáram-átalakító kapcsolási rajza és kapcsolási hullámformái (nagyításhoz kattintson az ábrára)3. ábra: Az ábrán egy feszültségcsökkentő egyenáram-átalakító kapcsolási rajza látható a kapcsolási hullámformákkal és a kapcsolódó veszteségi hullámformákkal együtt (ábra: ROHM Semiconductor)

A feszültségcsökkentő áramátalakító totemoszlop-kapcsolást használ egy magasoldali (SH) és egy alacsonyoldali (SL) MOSFET-kapcsolóval. A kapcsolók fázison túlra vannak hajtva, hogy egyszerre csak az egyik legyen nyitva (vezessen). A kapu vezérlési hullámformáin (VGSH és VGSL) jól láthatóak az eszköz parazitakapacitásainak töltési időtartamából adódó amplitúdóugrások. Mindkét eszköz esetében látható a nyelő–forrás feszültség (VDSH, VDSL) és a nyelőáram (IDH, IDL) hullámformája. Amikor az eszköz nyitva van, a VDS (nyelő–forrás) feszültség kicsi. Amikor az eszköz zárva van, a VDS feszültség nagy. Amikor az SH (felső MOSFET) nyitva van, a nyelőáram lineárisan nő, miközben létrehozza (tölti) az induktor (tekercs) mágneses mezejét. Ez idő alatt a csatorna ellenállásán átfolyó áram feszültséget gerjeszt a csatorna két végpontja között, ami az áramerősség négyzetének és a csatorna ellenállásának szorzatával arányos vezetési veszteséget (PCOND) okoz. Azon időtartamok alatt, amikor az eszköz állapotot vált, a feszültség és az áramerősség sem nulla, és az eszközben a feszültséggel, az áramerősséggel, a kapcsolási átmenet idejével és a kapcsolási frekvenciával arányos veszteségi teljesítmény keletkezik. Ezek a kapcsolási veszteségek.

Hasonló helyzet áll elő, amikor az SL (alsó MOSFET) van nyitva. Itt az áram lineárisan csökken, mivel az induktorban (tekercsben) tárolt energia szolgáltatja az alsó eszköz nyelőáramát. A csatorna ellenállásán ismét vezetési veszteségként megjelenő teljesítményt keletkezik. Vegyük észre, hogy amíg az alsó eszközben az áramerősség nullára nem csökken, a VDSL feszültség közel nulla értékű, így a ciklusnak ehhez a részéhez nem tartoznak kapcsolási veszteségek.

A záróirányú áram miatti veszteséget (PQrr) az eszközök belső testdiódájának lezárása okozza. Ezt az egyszerűség kedvéért csak a magasoldalon mutatjuk be.

A Pbody az eszközök belső testdiódájának vezetési vesztesége. Ezt a veszteséget az alacsonyoldali eszköz belső testdiódáján keresztül folyó áram okozza.

A teljes teljesítményveszteség a két tranzisztor esetében ezeknek az összetevőknek az összege.

A 4. generációs SiC MOSFET-ek nagyobb teljesítménye

A Si IGBT-k, valamint a 3. és 4. generációs SiC MOSFET-ek teljesítményét egy 5 kW-os teljes hidas inverter segítségével hasonlítottuk össze (4. ábra). Ebben a teljes híd áramkörben a nagyobb áramerősség érdekében két-két kapcsolóeszköz párhuzamosan van kapcsolva. A teljes híd összesen nyolc félvezető eszközt tartalmaz. A bal oldali képen az látható, hogy a nyolc eszköz egy hűtőbordára van szerelve. Az áramkör hatásfokát az eredeti IGBT-ket, valamint 3. és 4. generációs MOSFET-eket használva értékelték. Az inverter SiC MOSFET-ekkel 40 kHz, IGBT-kkel 20 kHz kapcsolási frekvencián működik.

Egy 5 kW-os ventilátor nélküli inverter képe és kapcsolási rajza (nagyításhoz kattintson az ábrára)4. ábra: A képen egy 5 kW-os ventilátor nélküli inverter és annak kapcsolási rajza látható. Az eredetileg 20 kHz-en működő szilícium IGBT-kkel tervezett áramkört 3. és 4. generációs SiC MOSFET-ekkel 40 kHz-en működtették. A teszt végén összehasonlították a három félvezetőtípus teljesítményveszteségét (ábra: ROHM Semiconductor)

A 3. generációs eszközök a ROHM Semiconductor SCT3030AL jelű, 650 V névleges feszültségű és 30 mΩ csatorna-ellenállású vagy más néven nyitóirányú ellenállású (RDS(ON)) MOSFET-jei voltak. 4. generációs eszközökként a ROHM Semiconductor SCT4026DEC11 jelű MOSFET-jeit használták. A 4. generációs eszközök névleges feszültsége 750 V-ra nőtt. Az eszköz nyitóirányú ellenállása (RDS(ON)) 26 mΩ, ez 13%-os csökkenést jelent, ami csak kismértékben csökkentette a vezetési veszteségeket.

A két SiC MOSFET veszteségének az eredeti IGBT veszteségével való összehasonlításán jól látható a hatásfok javulása (5. ábra).

Grafikon: a 4. generációs SiC MOSFET-ek jelentősen csökkentették a veszteségeket5. ábra: A 4. generációs SiC MOSFET-ek jelentősen csökkentették a veszteségeket az eredeti Si IGBT-khez és a 3. generációs SiC MOSFET-ekhez képest (ábra: ROHM Semiconductor)

A 4. generációs eszköz a 3. generációs eszközzel összehasonlítva 10,7 W-ról 9,82 W-ra csökkentette a vezetési veszteségeket (világoskék). Jelentősebb csökkenést értek el a kapcsolási veszteségeknél (narancssárga), 16,6 W-ról 8,22 W-ra.

A 4. generációs eszközök további fejlesztései közé tartozik a jobb kapuvezérlési képesség. A 4. generációs SiC MOSFET-ek 15 V-os vezérlést tesznek lehetővé, míg a 3. generációs eszközök 18 V-ot igényelnek. Ez azt jelenti, hogy a Si-eszközökkel tervezett áramkörökben a Si-eszközök helyettesíthetők 4. generációs MOSFET-ekkel. Ezenkívül a 4. generációs SiC MOSFET-ek esetében az eszköz zárt állapotában ajánlott vezérlőfeszültség 0 V. A 4. generációs termékek előtt a kapu–forrás feszültség esetében az eszköz zárt állapotában negatív előfeszítésre volt szükség, hogy megakadályozzuk az önnyitást. A 4. generációs eszközök esetében azonban a küszöbfeszültséget (Vth) magas értékűre tervezték, hogy megakadályozza az önnyitást, így nincs szükség negatív előfeszítés használatára.

4. generációs megoldások

A ROHM Semiconductor 4. generációs SiC MOSFET-jei két csoportra oszthatók az eszközök tokozása alapján. A korábban már említett SCT4026DEC11 egy 750 V-os, 56 A (+25 °C-on)/29 A (+100 °C-on) névleges áramerősségű, 26 mΩ nyitóirányú ellenállású SiC MOSFET háromlábú TO-247N tokban. A másik fajta, négylábú tokra jó példa az SCT4013DRC15, egy 750 V-os, 105 A (+25 °C-on)/74 A (+100 °C-on) névleges áramerősségű, 13 mΩ nyitóirányú ellenállású SiC MOSFET négylábú TO-247-4L tokban.

A négylábú tok egy további lábbal van ellátva, ami növeli a MOSFET kapcsolási sebességét. A hagyományos TO-247N háromlábú tok nem különíti el a kapuvezérlést az eszköz forrása és a forrás (S) láb között a nagy nyelőáram miatt fellépő parazitainduktivitásról. A kapufeszültséget a kapu (G) és a forrás (S) láb közé kell kapcsolni. Az eszközön a forrás (S) láb parazitainduktivitásán keresztül keletkező feszültségesés (VL) miatt csökken a hatásos kapufeszültség, ami a kapcsolási sebesség csökkenését okozza (6. ábra).

Ábra: a TO-247-4L negyedik lába elkülöníti egymástól a kapuvezérlő (G) lábat és a nagyáramú forrás (S) lábat (nagyításhoz kattintson az ábrára)6. ábra: A TO-247-4L negyedik lába egy Kelvin-kapcsolásba kötött további csatlakozólábként elkülöníti egymástól a kapuvezérlő (G) lábat és a nagyáramú forrás (S) lábat (ábra: ROHM Semiconductor)

A négylábú TO-247-4L tokban a kapuvezérlő (G) láb és a nagyáramú forrás (S) láb el van különítve, és a kapuvezérlés belül közvetlenül a forrásra van kötve. Ez minimálisra csökkenti a forrás (S) láb parazitainduktivitásának hatását. Az, hogy a kapuvezérlés belül közvetlenül a forrásra van kötve, lehetővé teszi a SiC MOSFET-ek kapcsolási sebességének a lehető legnagyobbra növelését, akár 35%-kal csökkentve a teljes kapcsolási veszteséget (nyitás és zárás) a hagyományos háromlábú TO-247N tokhoz képest.

A 4. generációs SiC MOSFET-ek másik megkülönböztető jellemzője a névleges feszültség. Ezek az eszközök 750 V, illetve 1200 V névleges feszültséggel kaphatóak. Az eddig tárgyalt két eszköz névleges feszültsége 750 V volt. A nagyobb feszültségű berendezésekhez készült SCT4062KEC11 egy 1200 V-os, 62 mΩ nyitóirányú ellenállású, 26 A (+25 °C)/18 A (+100 °C) névleges áramerősségű n csatornás SiC MOSFET háromlábú TO-247N tokban, míg az SCT4036KRC15 egy 1200 V-os, 36 mΩ nyitóirányú ellenállású, 43 A (+25 °C)/30 A (+100 °C) névleges áramerősségű n csatornás SiC MOSFET négylábú TO-247-4L tokban. Jelenleg összesen tízfajta 4. generációs SiC MOSFET kapható, +25 °C-on 26 A és 105 A közötti névleges áramerősséggel. RDS(ON) nyitóirányú ellenállásuk 13 mΩ és 62 mΩ között mozog.

A 4. generációs SiC MOSFET-ek felhasználási területei a villanyjárművekben

A 4. generációs SiC MOSFET-ek jellemzői jól illeszkednek a villanyjárművek igényeihez. Kiváló példákat szolgáltatnak erre a 400 V vagy 800 V feszültségű akkumulátoros villanyjárművek (BEV, battery electric vehicle) (7. ábra).

A 4. generációs SiC MOSFET jellegzetes felhasználási területeit szemléltető ábra (nagyításhoz kattintson az ábrára)7. ábra: A 4. generációs SiC MOSFET-ek jellegzetes felhasználási területei az akkumulátoros villanyjárművekben és a kapcsolódó külső tartozékokban (ábra: ROHM Semiconductor)

A 7. ábrán egy 400 V vagy 800 V akkumulátorfeszültségű, a kétirányú és a gyorstöltést egyaránt támogató akkumulátoros villanyjármű blokkvázlata látható. A fedélzeti töltő (OBC, onboard charger) totemoszlop-kapcsolású teljesítménytényező-javító (PFC, power factor correction) áramköröket és egy kétirányú, teljes hidas CLLC (kondenzátor, tekercs, tekercs, kondenzátor) rezonanciás áramátalakító tartalmaz. A külső „Quiq charge” egyenáramú gyorstöltő közvetlenül tölti az akkumulátort. Az akkumulátor látja el árammal a vontatóinvertert, amely az egyenáramot háromfázisú váltakozó árammá alakítja a motor meghajtásához. A szükséges teljesítményszintek kezeléséhez mindezek az áramkörök MOSFET-eket használnak különböző kapcsolásokban. A 4. generációs SiC MOSFET-ek azért fontosak, mert csökkentik az áramkörök fizikai méretét és növelik a névleges feszültséget, miközben csökkentik a veszteségeket és a költségeket.

Összegzés

A nagyfeszültségű, nagy teljesítményű alkalmazások tervezői számára – beleértve a villanyjárműveket, az adatközpontokat és a bázisállomásokat – a 4. generációs SiC MOSFET-ek kulcsfontosságú nagy teljesítményű kapcsolóeszközök. Mint látható, egyedi a szerkezeti felépítésük, amely a veszteségek csökkentése révén jelentősen javítja az áramátalakítás hatásfokát, miközben csökkenti a helyigényt és a költségeket.

Ajánlott olvasnivaló

  1. Effective Implementation of SiC Power Devices for Longer-Range Electric Vehicles (SiC teljesítményelektronikai alkatrészek hatékony felhasználása a villanyjárművek hatótávolságának növeléséhez)
  2. How to Correctly Apply the Right Power Devices to Meet Industrial Power Supply Requirements (A megfelelő tápegységek helyes használata az ipari áramellátási igények kielégítéséhez)
DigiKey logo

Disclaimer: The opinions, beliefs, and viewpoints expressed by the various authors and/or forum participants on this website do not necessarily reflect the opinions, beliefs, and viewpoints of DigiKey or official policies of DigiKey.

About this author

Image of Art Pini

Art Pini

Arthur (Art) Pini is a contributing author at DigiKey. He has a Bachelor of Electrical Engineering degree from City College of New York and a Master of Electrical Engineering degree from the City University of New York. He has over 50 years experience in electronics and has worked in key engineering and marketing roles at Teledyne LeCroy, Summation, Wavetek, and Nicolet Scientific. He has interests in measurement technology and extensive experience with oscilloscopes, spectrum analyzers, arbitrary waveform generators, digitizers, and power meters.

About this publisher

DigiKey's North American Editors